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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析儀,1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
（1）LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
（2）基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
（3）適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
（4）分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
（5）可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
