一、確保完全符合 CISPR、IEC、ISO 和 MIL 標(biāo)準(zhǔn)；在極短的測試時(shí)間內(nèi)完成可靠的認(rèn)證測量

    只有借助質(zhì)量一流的測量設(shè)備，才能充分保證在一致性測試過程中符合電磁兼容 (EMC) 規(guī)定。羅德與施瓦茨的 EMI 測試接收機(jī) 是執(zhí)行一致性測試的核心設(shè)備，不僅具有出色的動態(tài)范圍、一流精度和極低噪聲，還具備超快速時(shí)域掃描功能，可以根據(jù)新的測試規(guī)定快速、可靠地進(jìn)行測試。

    電磁干擾 (EMI) 測試只是完整測試的一部分。EMC 一致性測試包括測試對電磁場產(chǎn)生的外部干擾的敏感度，以及設(shè)備是否在典型的嘈雜電磁環(huán)境中正常工作。在電磁敏感度 (EMS) 方面，羅德與施瓦茨提供全面的 EMC 測試系統(tǒng)，包括功率放大器和天線以生成所有重要標(biāo)準(zhǔn)指定的電磁場以進(jìn)行抗擾度測量，以及 EMC 測試軟件以運(yùn)行和監(jiān)測 EMS 測試流程。

    在羅德與施瓦茨，身為標(biāo)準(zhǔn)定義委員會成員的專業(yè)人士被妥善地安排為測試要求方面的領(lǐng)導(dǎo)專家，以確保羅德與施瓦茨產(chǎn)品恰當(dāng)滿足一致性測試要求。

二、電磁干擾 (EMI) 一致性測試

1、根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)測量發(fā)射

     設(shè)備意外產(chǎn)生的電磁場會導(dǎo)致多種電磁干擾 (EMI) 源。EMI 測試是為了確保設(shè)備產(chǎn)生的任何電磁場不會干擾其他設(shè)備的正常功能。

     評估 EMI 是 EMC 一致性測試的一部分，旨在確定發(fā)射符合產(chǎn)品和地區(qū)的適用標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。有關(guān)各個(gè)地區(qū)和各類產(chǎn)品的適用標(biāo)準(zhǔn)詳情，請查閱詳細(xì)的 EMC 標(biāo)準(zhǔn)。

2、EMC 一致性測試裝置

     EMC 一致性測試裝置必須確保測試的可重復(fù)性。測試環(huán)境需沒有環(huán)境噪聲和反射面。電波暗室可以滿足這個(gè)要求，不僅能夠屏蔽外部噪聲，還具有吸波材料以減少室內(nèi)反射?；蛘?，也可以在空曠、偏遠(yuǎn)的室外場所進(jìn)行測量。開闊試驗(yàn)場 (OATS) 構(gòu)成試驗(yàn)場地的藍(lán)圖，僅反射地平面上的電磁波。半電波暗室在暗室內(nèi)部仿效這些試驗(yàn)場地，同時(shí)能夠更好地屏蔽環(huán)境噪聲?，F(xiàn)在，配備吸波地板的全電波暗室 (FAR) 也使用得越來越多。不同于半電波暗室，全電波暗室不必進(jìn)行耗時(shí)的高度掃描以消除地板反射的影響。EMS 測試的發(fā)射功率可達(dá)到千瓦，因此必須在全封閉房間內(nèi)執(zhí)行。開闊試驗(yàn)場不適用于此類測試。

     一致性測試使用具備高增益和高大發(fā)射功率的大型天線。EMS 測試要求所用天線具備高大發(fā)射功率，而 EMI 測試要求天線具有出色的靈敏度。高帶寬可減少天線的更換次數(shù)，避免減慢測試流程。天線在遠(yuǎn)場中相距數(shù)米，并指向被測設(shè)備 (DUT)。DUT 一般放置在使用介電材料制成的平臺上，并旋轉(zhuǎn)以捕獲所有可能的發(fā)射角度。在傳導(dǎo)測試中，人工網(wǎng)絡(luò) (AN) 對電源或信號線上的發(fā)射進(jìn)行去耦，并將其傳輸至測試接收機(jī)。

3、用于測量輻射和傳導(dǎo)發(fā)射的羅德與施瓦茨 EMC 一致性測試設(shè)備

     羅德與施瓦茨提供所有測量儀器，支持輻射和傳導(dǎo)干擾測量所需的系統(tǒng)組件、軟件、天線、線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò) (LISN) 和其他設(shè)備。羅德與施瓦茨 EMC 一致性測試系統(tǒng)集成的所有組件彼此完全兼容，滿足各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的要求。用于自動執(zhí)行 EMC 測試的程序支持設(shè)置、校準(zhǔn)、運(yùn)行和記錄 EMC 一致性測試所需的各種復(fù)雜測量。