注意示波器的探頭和示波器本身的帶寬能夠滿足測試要求。
測試點的選擇要注意選到盡量靠近信號的接受端。由于 DDR 信令比較復(fù)雜,因此為了能快速測試、調(diào)試和解決信號上的問題,我們希望能簡單地分離 讀/寫比特。
此時常用的是通過眼圖分析來幫助檢查 DDR 信號是否滿足電壓、定時和抖動方面的要求。觸發(fā)模式的設(shè)置有幾種,首先可以利用前導(dǎo)寬度觸發(fā)器分離讀/寫信號。
根據(jù) JEDEC 規(guī)范,讀前導(dǎo)的 寬度為 0.9 到 1.1 個時鐘周期,而寫前導(dǎo)的寬度規(guī)定為大于 0.35 個時鐘周期,沒有上限。第二種觸發(fā)方 式是利用更大的信號幅度觸發(fā)方法分離讀/寫信號。通常,讀/寫信號的信號幅度是不同的,因此我們可以 通過在更大的信號幅度上觸發(fā)示波器來實現(xiàn)兩者的分離。測試中要注意信號的幅度,時鐘的頻率,差分時鐘的交叉點,上升沿是否單調(diào),過沖等。
1、DDR3 SDRAM信號按功能分類
2、DDR3中的幾種采樣關(guān)系
地址控制信號ADDR/CMD與系統(tǒng)時鐘CK的時序關(guān)系
數(shù)據(jù)信號DQ/DM與數(shù)據(jù)選通信號DQS的時序關(guān)系
寫周期
讀周期
幾種時序關(guān)系,后續(xù)會做詳解
3、DDR時鐘信號(CK、DQS)測試:
時鐘信號過沖要求
寫方向
CK
DQS
讀方向