在開發(fā)產(chǎn)品的過程中，或者想要獲得相關(guān)證書進行電磁兼容測試（EMI：Electro Magnetic Interference）的時候，EMC干擾會對原有的電磁環(huán)境產(chǎn)生比較嚴重的影響。為了盡量減少這種干擾的影響，全球各國政府和地區(qū)機構(gòu)共同制定了很多通過標準，對不同產(chǎn)品的電磁干擾設(shè)置了相應(yīng)的限制，使相應(yīng)的測試機構(gòu)可以遵循相應(yīng)的條款，對產(chǎn)品進行EMC測試。

       幸運的是，存在一些比較簡單的儀器和技術(shù)可以幫助我們找出EMI干擾源。一旦你找到了干擾源，就會有一系列解決此類問題的方法。這種技術(shù)不是標準的EMI兼容測試的一部分，屬于預(yù)兼容測試，可以幫助找到干擾可能存在的地方，從而盡快地低風(fēng)險地通過電磁兼容測試。

設(shè)備清單：

以下是預(yù)兼容測試設(shè)備的配置方案，需要用到的基礎(chǔ)設(shè)備清單：

頻譜儀/EMI接收器+近場探頭+電流探頭+50歐姆同軸線纜

圖5：是一個典型的峰值測試實驗，黃色的軌跡是沒有使用衰減器得到的，紫色的則是給頻譜儀的射頻輸入端外加了一個10

   dB的衰減器得到的，這種情況下，峰值下降的量和所添加的衰減量是一致的。這幫助我們確認了峰值是真峰而不是干擾信號。

圖6：打開標記功能和峰值表功能的頻譜儀SSA3000X的界面

預(yù)兼容測試設(shè)備的配置方案：

1. 磁場由流動的電流產(chǎn)生。使用磁場近場探頭靠近導(dǎo)線或回路去甄別電磁輻射。

2. 電場由流動的電流或者靜電荷產(chǎn)生。使用電場近場探頭在金屬平面（例如散熱器，機箱，顯示屏的邊界或者是機殼的縫隙等）去甄別電磁輻射。

3. 使用電流鉗去甄別潛在的輻射和從線纜和連接器泄漏的諧振。

4. 顯示屏，機殼的縫隙，帶狀線纜和通信端口及總線是最可能導(dǎo)致輻射泄漏的地方。

5. 用導(dǎo)電帶或鋁箔包裹住可能產(chǎn)生泄漏的部分，并確認包裹是接地的，再次掃描被包住的地方的否還有EMI。

6. 連接不良的電纜和連接器也會導(dǎo)致輻射問題。

7. 通過給被測器件斷電并監(jiān)測頻譜儀上的輸出，可以多次測量環(huán)境的影響。在測量中要標注出任何的變化以及它們所帶來的潛在的影響。

通過一些簡單的設(shè)備，你可以在室內(nèi)進行預(yù)兼容測試過程，這會使得產(chǎn)品的生產(chǎn)時間變短，降低設(shè)計成本，以及減少下一代產(chǎn)品研發(fā)過程中的反復(fù)測量次數(shù)。