電源設(shè)計人員的需求正變得越來越高，他們面臨著巨大的壓力，需要改善效率，降低成本，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計是一項復(fù)雜的工作，這一過程有許多校驗點。在電源設(shè)計系列專題中，我們將向您介紹10個設(shè)計階段中每個設(shè)計階段的測試要求，并給出小貼士，讓您的測試更高效，讓您的生活更輕松。

    某些關(guān)鍵電源元器件，如MOSFETs和IGBTs，應(yīng)根據(jù)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行選擇，如額定電壓和電流、開機(jī)時間和關(guān)閉時間、輸入和輸出電容、開點狀態(tài)電阻和閉點狀態(tài)特點。

    制造商產(chǎn)品技術(shù)資料重要的細(xì)節(jié)之一可能是安全作業(yè)區(qū)(SOA)圖。應(yīng)采取相應(yīng)措施，了解在不同電壓和電流參數(shù)下的這一特點。問題是，制造商提供的大多數(shù)SOA圖并沒有提供完整的畫面，因為這些圖只在25°C下有效。僅依據(jù)這些數(shù)據(jù)會給實現(xiàn)和設(shè)計帶來重大風(fēng)險，特別是熱量設(shè)計。必需在實際環(huán)境中分析部件特點，在這些環(huán)境中，電源元器件很少保持在理想的環(huán)境溫度之下。

  設(shè)計的這個階段沒有原型，很難仿真預(yù)計的額定電流和電壓。解決這個問題的好方式是使用源測量單元，它可以驅(qū)動幾十安培的電流，生成可以測量的電壓。這有助于為應(yīng)用獲得實際I-V特點?？梢允褂孟嗤脑O(shè)備，測量開點狀態(tài)特點的小的差異，如柵極閾值電壓、增益和開點電阻。同樣，對低電流閉點狀態(tài)測量，如泄漏電流，可以使用儀器，提供高電壓，生成可以測量的電流。

    對擊穿電壓，確保提供的電壓是器件工作電壓的幾倍，以便測量擊穿電壓。在簡單的兩端子器件或比較復(fù)雜的三四端子晶體管上測量器件電容相對于電壓關(guān)系時，一定要使用能夠測試器件DC工作電壓整個范圍的電容測量系統(tǒng)。注意，傳統(tǒng)LCR儀表會告訴你電容，但不是在整個工作電壓中。

    吉時利源測量單元可以作為四合一儀器：電壓/電流源、電壓/電流表、掃描分析儀、函數(shù)發(fā)生器，為這類測試提供了完美的解決方案。源表還包括可編程負(fù)載，可以測量元器件上的I-V特點，從幾μV到3KV，從幾fA到100A。一個很好的插件是IVy應(yīng)用，可以從GooglePlay下載，適用于安卓智能手機(jī)或平板電腦，您可以在元器件上無縫執(zhí)行I-V特性分析。