近場探頭及放大器的應(yīng)用方案介紹

（EM5030 近場探頭+EM5020A/B 放大器）

專為近場測試設(shè)計(jì)的探頭

特別適用于電子產(chǎn)品的電磁場測量

一、為什么要近場測量

       在EMC 測試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中，是遠(yuǎn)場測量，遠(yuǎn)場測試只是能給出頻率信息。顯示各個(gè)頻點(diǎn)的輻射強(qiáng)度，但是沒有給出具體的位置信息。為了通過測試，如果沒有目的的對(duì)電路進(jìn)行更改，將會(huì)花大量的時(shí)間，精力，經(jīng)費(fèi)。加長了產(chǎn)品的研發(fā)周期。所以必須對(duì)產(chǎn)品的輻射根源進(jìn)行排查，這樣就要用到近場探頭來具體定位干擾源，后級(jí)接放大器，可大大提高測試靈敏度。

二、近場探頭套件特點(diǎn)

（1）寬頻率范圍，多種形狀的探頭，可以完成多種的電磁場測試任務(wù)。

（2）通過移動(dòng)探頭可以檢測出磁場的方向和分布，適用于機(jī)箱線纜電磁泄露，IC 引腳區(qū)域，EMC 器件等的磁場檢測。

（3）無源探頭，可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50 歐姆輸入端，方便檢查使用不同手段對(duì)磁場或者電流的變化。如果應(yīng)用場合的信號(hào)比較弱，可在后級(jí)增加EM5020A/B 放大器，增益約20dB/30dB，提高系統(tǒng)測試靈敏度！

（4）探頭輕巧，使用方便。

三、近場探頭應(yīng)用領(lǐng)域

（1）查找干擾源，完成定位，甚至可以精準(zhǔn)到IC 引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產(chǎn)生的原因

（2）可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強(qiáng)度

（3）可以檢測機(jī)箱、線纜、PCB 模塊等磁場泄露情況

四、測試示意圖

      CYBERTEK EM5030 近場探頭測試頻率可達(dá)3G，在產(chǎn)品的開發(fā)期間可用探測PCB 的磁場變化情況。如電動(dòng)機(jī)磁場輻射強(qiáng)度很強(qiáng)，可以不加放大器。示意圖如下：

五、測試方法

      先一步利用EM5030-1 或者EM5030-2 檢測大概磁

      第二步利用EM5030-3 或者EM5030-4 實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確定位

示意圖如下：

六、應(yīng)用案例（開關(guān)電源）

      先一步利用EM5030-1 探測PCB 某處磁場大概強(qiáng)度

       從圖上可以看到：10MHz 附近70MHz 附近107MHz 附近有較強(qiáng)的磁場輻射

       第二步利用EM5030-3 進(jìn)一步定位（發(fā)現(xiàn)探頭附近有兩個(gè)很長的引線，探測這兩根線）

      上圖看到探測到的這根線（該線為電池供電時(shí)的初級(jí)線圈）輻射比較強(qiáng)，頻率在10MHz 附近和70MHz 附近！

      上圖看到探測到的這根線（電壓輸出線）在頻率107MHz 的輻射比較強(qiáng)（上圖中的10MHz 處點(diǎn)輻射也很強(qiáng)，后來發(fā)現(xiàn)是頻譜儀的問題）通過以上兩步基本查到了不同頻率點(diǎn)的輻射源，下面的問題相對(duì)就比較容易了！當(dāng)然我們可以看到上圖的信號(hào)比較微弱，可以配套本公司的EM5020A/B 放大器，測試效果如下：

后級(jí)加放大器后，看到測到的輻射強(qiáng)度明顯增加，靈敏度提高很多！