進(jìn)行高頻測量時(shí)更改繞組匝數(shù)后，為什么鐵芯損耗測量值會出現(xiàn)差異

2024-08-29 09:00:55

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進(jìn)行高頻測量時(shí)更改繞組匝數(shù)后，為什么鐵芯損耗測量值會出現(xiàn)差異？

產(chǎn)生差異的原因之一可能是受到了LC并聯(lián)諧振現(xiàn)象的影響。諧振頻率根據(jù)繞組匝數(shù)而變化。如果檢測電壓、檢測電流均在B-H分析儀的可測量范圍即可執(zhí)行鐵芯損耗測量，但B-H分析儀的輸入電容C與試樣的電感L會形成LC并聯(lián)諧振電路，所以在執(zhí)行高頻測量時(shí)需注意。使用時(shí)，請確保測量頻率在諧振頻率的1/10以下。諧振頻率fc可通過以下公式進(jìn)行計(jì)算。

L：試樣的電感　C：B-H分析儀的輸入電容（SY-8218 / SY-8219約為18.5pF） N1：1次繞組匝數(shù)　N2：2次繞組匝數(shù)　

此外，如果是高相位角(≧約87°)的試樣，其諧振影響將會變大，測量高相位角的試樣時(shí)，建議以諧振頻率1/20以下的頻率執(zhí)行測量。
原因之二可能是受到了試樣內(nèi)部磁場(的強(qiáng)度)、或磁通密度B的不均衡影響。試樣磁導(dǎo)率較低、形狀非環(huán)形、或繞組不均衡時(shí)，試樣內(nèi)部的H、B的大小大多會根據(jù)試樣的位置而異。更改繞組匝數(shù)后，H的平均勵(lì)磁位置、或B的平均檢測位置會發(fā)生變化，從而使鐵芯損耗產(chǎn)生差異。

B-H分析儀